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遺傳圖譜

目    錄
  • 產(chǎn)品介紹
  • 常見問題
  • 經(jīng)典案例
  • 結(jié)果展示

背景簡介

遺傳圖譜也叫連鎖遺傳圖譜(Genetic linkage map),是指基因或DNA分子標記在染色體水平上的相對位置與遺傳距離,通常以基因或DNA片段在染色體交換過程中的重組頻率來描述,單位為厘摩爾(cM)。例如兩個基因或兩個分子標記之間的遺傳距離為0.8cM表示減數(shù)分裂時的重組頻率為0.8%。這里的遺傳距離指的是相對距離而不是染色體上的物理距離。兩者的遺傳距離越近,發(fā)生重組的概率就會越低,反之亦然。     數(shù)量性狀是指表型呈現(xiàn)連續(xù)變化的性狀,如株高抗病能力等容易受到多種因素的影響??刂茢?shù)量性狀的基因在基因組上的位置被稱作數(shù)量性狀基因座(Quantitative Trait Locus, QTL)。     尋找QTL在染色體上的位置并估計其遺傳效應(yīng),稱作QTL作圖(QTL mapping)。構(gòu)建圖譜需要有大量的分子標記作為輔助,傳統(tǒng)的分子標記包括RFLP、SSR等。但是用這些標記去定位區(qū)間存在標記密度過低,構(gòu)建費時費力等問題,逐漸被SNP標記給替代。利用全基因組重測序或簡化基因組測序的方法得到高密度的SNP標記定位QTL已經(jīng)成為主流。

 

應(yīng)用領(lǐng)域
 
QTL定位:通過表型性狀與標記間的關(guān)聯(lián)分析來確定各個數(shù)量性狀位點在染色體上的位置、效應(yīng)及各個QTL間的 相互作用。


輔助基因組組裝:通過帶有序列信息的遺傳圖譜,將組裝的scaffold進行進一步的鏈接,并定位到染色體上,以獲得基因組精細圖譜。

 
 分子標記輔助育種:獲得與性狀緊密連鎖的標記,根據(jù)標記序列設(shè)計引物,直接應(yīng)用于群體中的性狀篩查。

比較基因組學(xué)研究:利用高密度遺傳圖譜上標記的宏觀共線性,揭示不同物種間染色體或片段上的共線性,分析相關(guān)物種基因組結(jié)構(gòu)和進化歷程。

方案設(shè)計

分析內(nèi)容


樣本類型和測序方案

取樣類型:具有重要性狀的親本,雜交或自交能產(chǎn)生后代。
子代群體包括暫時分離群體F1、F2和永久分離群體RIL、NIL等
作圖群體:父本母本各一個,子代數(shù)量150個起。隨機挑選作圖群體。
測序深度:親本20-30X,子代3-5X

Q1. 群體數(shù)量是否有要求?

A:我們一般推薦老師的樣本數(shù)≥200,至少150個起。和BSA混池選樣策略完全相反,即BSA選取的是極端性狀做混池,而遺傳圖譜盡量做到隨機取樣,而不是刻意挑選。

Q2 .不同物種如何選擇作圖群圖?

A:首先要符合親本雜交或自交后具有可育性,然后根據(jù)親本的雜合和純合度選擇分離群體。通常情況下親本純合度較高的物種如水稻等,分離群體可選用F2、BC、RIL、DH、NAM群體等。而雜合度較高的親本(純合度<50%)如林木、果樹、水生魚類、昆蟲等一般采用F1作為分離群體。

Q3 .全基因組重測序的測序深度有何要求?

A:對于親本,我們推薦測序深度≥20X。子代推薦深度3-5X。

Q4 . 多倍體可以做遺傳圖譜嗎?

A: 同源多倍體物種遺傳圖譜目前可以當做二倍體來做,異源多倍體例如四倍體陸地棉等作物可以當做兩個二倍體作物來構(gòu)建遺傳圖譜。

Q5 . 遺傳圖譜除了QTL定位還有哪些重要的功能?

A:遺傳圖譜用途廣泛,包括QTL定位、輔助基因組組裝、分子標記輔助育種和比較基因組學(xué)研究等。

Q6 .表型數(shù)據(jù)是否符合正態(tài)分布才能進行QTL定位?

A:事實上表型數(shù)據(jù)中的隨機誤差大致符合正態(tài)分布即可,無需嚴格要求表型數(shù)據(jù)滿足正態(tài)分布。但是這里需要再次強調(diào)的是,老師在選擇作圖群體時,取樣盡量要均勻隨機而不是刻意選擇自己喜歡的性狀。

Q7. 上圖標記中是否包含偏分離標記?偏分離標記原因是什么?

A:包含偏分離不顯著的標記,顯著偏分離的標記會被過濾掉。偏分離是自然界非常普遍存在的現(xiàn)象,并被認為是生物進化的動力之一。產(chǎn)生偏分離的原因主要有兩個方面:配子選擇和合子選擇,其中配子選擇主要包括花粉致死、花粉管競爭和選擇性受精。除了上述原因以外,環(huán)境因素、非同源重組、基因轉(zhuǎn)換、轉(zhuǎn)座因子、轉(zhuǎn)基因沉默、體外孤雄生殖過程中的選擇壓、非整倍體或不穩(wěn)定易位造成的染色體不穩(wěn)定等都有可能是導(dǎo)致偏分離。

基于重測序圖譜精細定位大豆抗性基因


材料:
親本: Magellan ×PI 438489B
子代:RIL群體(246個子代個體)
測序
親本測序深度13.5X,子代 0.19X
性狀
抗豆根受線蟲病 

246個重組自交系的Bin map,紅色來自感病親本,綠色來自抗性親本。B圖是A圖基礎(chǔ)上放大的效果圖。白色的線是重組區(qū)(重組間隔),兩個重組間隔之間即為一個Bin,以Bin為標記作圖。
 
3509個bins,每個bin平均包含著31個SNPs,R/QTL 包構(gòu)建連鎖圖,該連鎖圖覆蓋了大豆基因組2314cM,平均圖距為0.66cM。

定位結(jié)果

在群體足夠大的情況下,采用重測序的方法測序定位效果會更加精細;尋找非同義突變位點,縮小候選區(qū)域;一步到位,直接獲得候選區(qū)域序列信息。

標記層面

重測序可以高效開發(fā)雙親之間的SSR,InDel標記同時檢測SV,CNV變異信息;SSR,InDel標記檢測操作相對于CAPS,dCAPS標記更加容易,一般實驗室就能順利完成。

分析內(nèi)容

可以與參考基因組和近緣物種進行共線性分析,尤其是與近緣種進行共線性分析時可以挑出同源片段,深入研究這些保守片段的分子結(jié)構(gòu)和特點。

輔助組裝

利用親本的高深度序列信息(30X)可以完善參考基因組序列信息,輔助和糾錯基因組裝工作。

參考文獻

Xu, X., et al. (2013). Pinpointing genes underlying the quantitative trait loci for root-knot nematode resistance in palaeopolyploid soybean by whole genome resequencing. PNAS, 110(33), 13469-74.

測序深度分布圖

多態(tài)標記開發(fā)


遺傳譜圖共顯性評估

圖譜質(zhì)量評估

共線性評估

QTL定位結(jié)果


遺傳圖譜構(gòu)建

 

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